NTプラズマにおけるI-mode、H-mode、L-modeの関係
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1. H-modeへの遷移が抑制されやすい(ELMフリー運転が可能) 不利な磁場配置(B×∇BドリフトがX点から離れる方向)では、H-modeへの遷移が難しいことが分かっています。 通常、H-mode遷移にはErが−15 kV/m以下になる必要がありますが、NTプラズマではErが−5 kV/m程度と浅いため、H-modeに入らないケースが多いです。 その結果、L-modeが維持される傾向が強いです。 有利な磁場配置ではタイプI ELMが発生しますが、不利な磁場配置ではH-mode遷移自体が抑制されることが多く、ELMフリー運転が可能になります。 I-modeが通常観測されるのは、Erが−8 kV/mから−15 kV/mの範囲です。 しかし、不利な磁場配置のNTプラズマでは、Erが−5 kV/m程度で浅いため、I-modeへの遷移も起こりにくいとされています。 3. L-modeが維持される傾向が強い
NTプラズマはL-modeを維持しやすいという特徴があります。 高い補助加熱(NBIやECRHなど)を行っても、L-modeのまま維持されるケースが多いと報告されています。 有利な磁場配置では、通常のPTプラズマと同様にH-modeに移行してしまい、タイプI ELMが発生します。 不利な配置では、H-mode遷移閾値が2倍になるため、L-modeが維持されます。 table:table
I-mode 発現が難しい Er ≈ −8 ~ −15 kV/m 不利な配置ではErが十分に負にならずWCMが観測されない 最終的な見解
ただし、不利な磁場配置と適切な加熱条件を調整することでI-modeが発現する可能性もあり、さらなる実験と解析が必要です。