集積回路
数十から数百のトランジスタを 1 チップにまとめて接続したもの 規模によってクラス分けされている
生産方法
ウェハー自体の傷やパターン形成工程での傷ができた領域は不良品
ウェハー上に多くのダイ (俗にいうチップ) になるものを形成して切り出す ダイのサイズが大きくなると集積回路のコストが急上昇
理由 2 つ : 歩留まりが下がる、ウェハーあたりのダイの数が少なくなる
対応 : トランジスタと配線の両方を小さくした次世代プロセスを使用
2012 年に代表的なプロセスは 32 nm プロセス (ダイ上の最小のトランジスタが 32 nm)
参考文献