JTAG

JTAG（ジェイタグ、英語: Joint Test Action Group）は、集積回路や基板の検査、デバッグなどに使える、バウンダリスキャンテストやテストアクセスポートの標準 IEEE 1149.1 の通称である。本来はこの検査方式を定めた業界団体（Joint European Test Action Group）の名称の略。当初JETAGであったがEuropeanが抜けJTAGとなった。

複数のデバイスを数珠繋ぎにして順番に状態を読み出すらしい